Cryo-(S)TEM

JEOL F200

Für hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie und insbesondere für Elektronentomographie, STEM und Cryo-TEM greifen wir auf ein 200 kV Scanning-Transmissionselektronenmikroskop (STEM) von JEOL zurück. Je nach Probenart und Untersuchungstechnik lassen sich damit Proben bis zu 1000 nm Dicke untersuchen.

Ausstattung

• Schottky-Feldemitter
• Beschleunigungsspannung zwischen 20 und 200 kV; Standard: 200 kV sowie in seltenen Fällen 80 kV
• Kryo-Polschuh
• 2 Standardprobenhalter für je 1 Probe
• Mehrfachprobenhalter für bis zu 4 Proben
• High-tilt Tomographiehalter
• Fishione 2550 Cryohalter inkl. Cryo-Workstation
• STEM-Einheit inkl. HAADF Detektor
• 6-Achsen Goniometer
• automatischer Probenhaltertransfer (Spec-Porter)
• 20 MP (5120 x 3840 Pixel) CMOS TEM Kamera: XAROSA (EMSIS GmbH, Münster, Deutschland); Pixelgröße 13 x 13 µm²

Auflösung (garantiert bei 200 kV)

• Punktauflösung: 0,27 nm
• Linienauflösung: 0,14 nm
• STEM-Betrieb (DF STEM-Auflösung): 0,2 nm
• Vergrößerungsspektrum: x20 bis x2.000.000 (TEM) bzw. x200 bis x150.000.000 (STEM)

Anwendungen

• TEM-Tomographie an Semidünnschnitten (200 bis 500 nm)
• STEM-Tomographie an Semidünnschnitten (400 bis 1.000 nm)
• Cryo-TEM
• 2D und 3D-Immunogold-Lokalisation